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Keithley 4200半導體特性分析系統

簡要描述:Keithley 4200半導體特性分析系統
使用 4200A加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析 研究。 .高性能參數分析儀,提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-12-19
  • 訪  問  量:1931

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詳細介紹

品牌其他品牌應用領域醫療衛生,環保,生物產業,農業,地礦

Keithley 4200半導體特性分析系統

• 使用 4200A加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析 研究。 .高性能參數分析儀,提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。

• 內置測量視頻采用英語、中文、日語和韓語

• 使用數百個用戶可修改應用測試開始您的測試

• 自動實時參數提取、數據繪圖、算數函數

• 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端

• 用戶可配置低電流功能,個性化輸出通道名稱,查看實時測試狀態

• NBTI/PBTI 測試,隨機電報噪聲,非易失內存設備,穩壓器應用測試

型號

說明

4200A-SCS-PK1

210V/100mA,0.1 fA 分辨率,對于兩端和三端設備,MOSFET、CMOS 檢定套件4200A-SCS-PK1 包括:

高分辨率 IV 套件

4200A-SCS 參數分析儀

4200-SMU 模塊

4200-PA 前置放大器

8101-PIV 測試夾具與采樣設備

4200A-SCS-PK2

210V/100mA,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz,對于高 K 電解質,深亞微米 CMOS 檢定套件4200A-SCS-PK2

高分辨率 IV 和 CV 套件

包括:

4200A-SCS 參數分析儀

4200-SMU 模塊

4200-PA 前置放大器

4210-CVU 電容-電壓模塊

8101-PIV 測試夾具與采樣設備

4200A-SCS-PK3

210V/1A,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz,對于功率設備、高 K 電解質,深亞微米 CMOS 設備檢定套件

高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件

4200A-SCS-PK3 包括:

4200A-SCS 參數分析儀

4200-SMU 模塊

4210-SMU

4200-PA 前置放大器

4210-CVU 電容-電壓模塊

8101-PIV 測試夾具與采樣設備

4200-BTI-A

用于使用尖.端 CMOS 技術套件進行復雜的 NBTI 和 PBTI 測量4200-BTI-A 包括:

超快 NBTI/PBTI 套件

4225-PMU 超快 I-V 模塊

4225-RPM 遠程前置放大器/開關模塊

自動化檢定套件 (ACS) 軟件

超快 BTI 測試項目模塊

電纜

 Keithley 4200半導體特性分析系統

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