產品中心
產品中心
該檢測器 是一種高性能的分光光度計 ，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等 方面取得 了 多項成果 。 覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍
●非接觸式、非破壞性光學式膜厚檢測 ●采用分光干涉法實現高度檢測再現性 ●可進行高速的即時研磨檢測 ●可穿越保護膜、觀景窗等中間層的檢測 ●可對應長工作距離、且容易安裝于產線或者設備中 ●體積小、省空間、設備安裝簡易 ●可對應線上檢測的外部信號觸發需求 ●采用最適shi合膜厚檢測的獨自解析演算法。(已取得專zhuan利) ●可自動進行膜厚分布制圖(選配項目)
MINUK是一種可以評估納米量級的透明異物和缺陷的設備，可以單次獲取高度方向的信息，并且可以無損、非接觸、非侵入性地進行測量。 此外，還可以高速掃描任何表面并確定測量位置，而無需對焦。
本產品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據用途，可以根據需要定制任意數量的必要功能。
● 可根據用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網眼結構分析、粒徑多角度測定) ● 可以用標準流動池連續測量粒徑和zeta電位 ● 可以測量從稀薄到濃厚溶液(~40% )的廣泛濃度范圍的粒徑zeta電位 ● 可以在高鹽濃度下測定平板狀樣品的zeta電位 ● 可在0~90℃的廣闊溫度范圍內進行測量 ● 通過溫度梯度功能，可對蛋白質等的變性及相變溫度進行解析
ELSZ series的最zu高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實現測量粒子濃度測定、微流變學測定、凝膠的網狀結構分析。 全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發的對應高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環境下進行測量。
在線留言