產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER產(chǎn)品分類
PRODUCT CLASSIFICATION相關文章
RELATED ARTICLESS-DSR探測器光譜響應測試系統(tǒng) ? 寬光譜范圍(200~14000nm可選),適用面廣 ? 調(diào)制法測量技術,提升測量結(jié)果信噪比 ? 開機即用的Turnkey系統(tǒng)設計,維護簡單 ? 監(jiān)視光路,方便樣品定位 ? 全反射光路設計,優(yōu)化光斑質(zhì)量 ? 高穩(wěn)定性光源,降低背景噪聲影響 ? 標準測量軟件,數(shù)據(jù)導出格式支持第三方軟件
光譜變溫附件/探針臺 THMS600 是使用.為廣泛的高精度冷熱臺。其寬泛的溫度范圍(-196°C到 600°C)和升溫速 率(0.1 到 150°C/min),以及高精度(全程 0.1°C)和高穩(wěn)定(0.01°C),使其在各行業(yè)得 到廣泛的應用。
波銘科儀銷售的多種SERS增強試劑、SERS芯片,均是經(jīng)過嚴格反復試驗、驗證、摸索制備而成,各項性能指標都很優(yōu) 良,能滿足大多數(shù)生物分子、染料分子及其他分析物分子的拉曼檢測,穩(wěn)定性高,拉曼增強效應強。
QE-2000熒光量子效率測試系統(tǒng)瞬間測量絕.對量子效率。適用于粉末、溶液、固體(膜)、薄膜樣品的測量。通過低雜散光多通道分光檢出器,大大減少了紫外區(qū)域 的雜散光。
S-MPL系列顯微熒光成像系統(tǒng) 光致發(fā)光(photoluminescence)即PL,是用紫外、 可見或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光,在半 導體材料的發(fā)光特性測量應用中通常是用激光(波 長如325nm、532nm、785nm等)激發(fā)材料(如 GaN、ZnO、GaAs等)產(chǎn)生熒光,通過對其熒光光譜(即PL譜)的測量,分析該材料的光學特性,如禁帶寬 度等。
組合熒光系統(tǒng)采用模塊化設計,既可實現(xiàn)穩(wěn)態(tài)、瞬態(tài)測量,又能實現(xiàn)UV-VIS-MIR的寬范圍測 量。組合熒光系統(tǒng)多種部件可供選擇(光源、探測器、樣品架、變溫模塊等),能針對研究者實驗的不 同需求量身打造為合適的熒光光譜系統(tǒng)。
公司郵箱: qgao@buybm.com
服務熱線: 021-61052039
公司地址: 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄創(chuàng)研智造J6區(qū)202室
Copyright © 2025 上海波銘科學儀器有限公司 Al Rights Reserved
備案號:滬ICP備19020138號-2
技術支持:化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關于我們
公司簡介 企業(yè)文化 榮譽資質(zhì) 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術文章 在線留言推薦產(chǎn)品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) RU120便攜式拉曼光譜儀