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  • 少子寿命/ μ LBIC变温测试系统

    WT-2000MCT/μ LBIC 适用于对超低温有特殊要求的材料，比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等，它已被广泛用于化合物材料的缺陷，杂质和光电效率等参数表征。

    更新日期：2024-09-26
    型号：
    厂商性质：生产厂家
  • WT-2000半导体多功能测试

    WT-2000提供349nm，904nm，1064nm，1550nm等不同激发光，适合Si，SiC，GaAs，CdZnTe，InGaAs等各种材料电学参数测试。

    更新日期：2024-09-26
    型号：
    厂商性质：生产厂家
  • WT-1200A 单点式少子寿命测试系统

    WT-1200A 是单点式少子寿命测试系统，具备无接触等优点。

    更新日期：2024-09-26
    型号：
    厂商性质：生产厂家
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