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太陽能電池量子效率測試系統? Oriel 的 QEPVSI-b 是用于測量量子效率 （QE）（也稱為入射光子到電荷載流子效率 （IPCE）） 的預配置而靈活的解決方案。行業領.先的組件 確保精度和可...

Oriel Sol3A 太陽光模擬器采用單燈設計，滿足全部 3A 級性能標準，而不影 響其 1 個太陽光強輸出功率。按照慣例，AAA 級的第.一個字母代表光譜匹配 度，第二個字母代表輻照均勻性，第三個...

光電流成像是一種用于表征材料或器件的光電特性的成像技術。該技術通過在器件或材料表面照射光源，并測量其產生的電流信號，來獲得材料或器件的空間分布信息。

S-DSR探測器光譜響應測試系統? 寬光譜范圍（200~14000nm可選），適用面廣? 調制法測量技術，提升測量結果信噪比? 開機即用的Turnkey系統設計，維護簡單? 監視光路，方便樣品定位? ...

光譜變溫附件/探針臺THMS600 是使用.為廣泛的高精度冷熱臺。其寬泛的溫度范圍（-196°C到 600°C）和升溫速 率（0.1 到 150°C/min），以及高精度...

波銘科儀銷售的多種SERS增強試劑、SERS芯片，均是經過嚴格反復試驗、驗證、摸索制備而成，各項性能指標都很優 良，能滿足大多數生物分子、染料分子及其他分析物分子的拉曼檢測，穩定性高，拉曼增強效應強。

QE-2000熒光量子效率測試系統瞬間測量絕.對量子效率。適用于粉末、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低雜散光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區域 的雜散光。

S-MPL系列顯微熒光成像系統光致發光（photoluminescence）即PL，是用紫外、 可見或紅外輻射激發發光材料而產生的發光，在半 導體材料的發光特性測量應用中通常是用激光（波 長如325n...

組合熒光系統采用模塊化設計，既可實現穩態、瞬態測量，又能實現UV-VIS-MIR的寬范圍測 量。組合熒光系統多種部件可供選擇（光源、探測器、樣品架、變溫模塊等），能針對研究者實驗的不 同需求量身打造為...

鏡頭透過率測試系統測量光學鏡頭的光譜透過率（光學鏡頭透過率>10%）,鏡頭透過率測試系統測鏡頭口徑：?0-?20mm，鏡頭長度200-600mm

漫反射率測試系統光度測量準確度：1%以內（紫外-可見區），2%以內；（近紅外區）,漫反射率測試系統光度測量重復性：1% (450nm-1800nm) ；測試試樣尺寸(典型)：直徑大于15mm，若同時測...

S-AS系列常規樣品反射、吸收系統?透射、反射 / 吸收率是光學元件（如光學材料、濾光片、鍍膜等）與多種生活材料（玻璃、布料、汽車貼膜等）的重要光學特性指標， 我司S-AS 系列 透射、反射 / 吸收...